Wafer da 4 pollici (100 mm)

Wafer da 4 pollici (100 mm)

La linea di prodotti Microelectronics comprende substrati di wafer lato singolo lucido (SSP) e doppio lato lucido (DSP). ● 4 "P tipo, wafer di silicio lucido (25 pezzi) ● Orientamento: 100 ● Resistività: 0,1 - 40 Ohm • cm (Può variare da lotto a lotto) ● Spessore: 525 +/- 20um ● Prime / Monitor / Grado di prova
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Descrizione
Parametri tecnici

【Introduzione al prodotto】

Wafer lucido da 4 pollici (100 mm) DSC01065 730


Wafer lucido da 4 pollici (100 mm) DSC01070 730


PROPRIETÀ DEI MATERIALI

Parametro

Caratteristica

Metodo di controllo ASTM

Tipo / drogante

P, boro N, fosforo N, antimonio N, arsenico

F42

orientamenti

<100>, <111> separano gli orientamenti per le specifiche del cliente

F26

Contenuto di ossigeno

10 18 ppmA Tolleranze personalizzate per specifiche del cliente

F121

Contenuto di carbonio

<0,5 ppma="" tolleranze="" personalizzate="" per="" specifiche="" del="">

F123

Intervallo di resistività - P, Boro- N, Fosforo- N, Antimonio-N, Arsenico

0,001 - 50 ohm · cm
0,1 - 40 ohm · cm
0,005 - 0,025 ohm · cm
<0,005 ohm="">

F84

 

PROPRIETÀ MECCANICHE

Parametro

primo

Monitor / Test A

Test

Metodo ASTM

Diametro

100 ± 0,2 mm

100 ± 0,2 mm

100 ± 0,5 mm

F613

Spessore

525 ± 20 μm (standard)

525 ± 25 μm (standard) 381 ± 25 μm 625 ± 25 μm 700 ± 25 μm 800 ± 25 μm 1000 ± 25 μm 1500 ± 25 μm

525 ± 50 μm (standard)

F533

TTV

<5>

<10>

<15>

F657

Arco

<30>

<30>

<40>

F657

avvolgere

<30>

<30>

<40>

F657

Arrotondamento dei bordi

SEMI-STD

F928

Marcatura

Appartamenti SEMI-STD, solo SEMI-Flat primari

F26, F671

  

QUALITÀ DELLA SUPERFICIE

Parametro

primo

Monitor / Test A

Test

Metodo ASTM

Criteri sul lato anteriore

Condizione di superficie

Meccanico meccanico lucido

Meccanico meccanico lucido

Meccanico meccanico lucido

F523

Ruvidezza della superficie

<2 a="">

<2 a="">

<2 a="">


Contaminazione, particelle @> 0,3 μm

= 20

= 20

= 30

F523

Foschia, buche, scorza d'arancia

Nessuna

Nessuna

Nessuna

F523

Saw Marks, striature

Nessuna

Nessuna

Nessuna

F523

Back Side Criteria

Crepe, zampe di gallina, seghe, macchie

Nessuna

Nessuna

Nessuna

F523

Condizione di superficie

Caustico inciso

F523

  

Descrizione del prodotto

La linea di prodotti Microelectronics comprende substrati di wafer lato singolo lucido (SSP) e doppio lato lucido (DSP). I wafer lucidati a doppio lato sono tipicamente richiesti in semiconduttori, MEMS e altre applicazioni in cui sono richiesti wafer con caratteristiche di planarità strettamente controllate.

 

Offriamo anche pezzi di wafer rettangolari e quadrati. La gamma delle lunghezze dei bordi per i wafer di silicio è fondamentalmente realizzabile: 5 x 5 mm2 ... 100 x 120 mm2, ecc. Il pezzo di costo / wafer dipende dal materiale e dal numero di pezzi di wafer richiesti.

 

Decking e lucidatura personalizzati sono disponibili anche in base alle vostre esigenze. Non esitate a contattarci.

 

Caratteristiche del prodotto

·          4 "tipo P / N, wafer di silicio lucido (25 pezzi)

·          Orientamento: 100

·          Resistività: 0,1 - 40 Ohm · cm (Può variare da lotto a lotto)

·          Spessore: 525 +/- 20um

·          Prime / Monitor / Test


Etichetta sexy: Wafer da 4 pollici (100mm), Cina, fornitori, produttori, fabbrica, made in China

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